Sản xuất tại Nhật Bản
Nhà sản xuất: Dia Electronics Application
Mô hình: SCAN-M4

Tính năng:

Hệ thống đa hệ thống kiểm tra siêu âm HYPER SCAN-M4 tăng năng suất với hệ thống đa kênh (2CH, 4CH).

Thông số kĩ thuật:

Mô-đun Nguồn

Phát hiện lỗi bên trong mô-đun
Chip / bảng mạch hàn kiểm tra lớp mối nối
Kiểm tra lớp mối hàn tấm đế / bo mạch
Mô-đun và tấm đế kiểm tra lớp nhựa kết dính
Kiểm tra nội bộ mô-đun vây

Thành phần / Vật liệu tổng hợp gốm sứ
Kiểm tra lớp liên kết gốm / kim loại (đồng, nhôm)
Kiểm tra bong tróc của vật liệu mâm cặp tĩnh điện
Kiểm tra các mối nối giữa các mạch / đế kim loại
Kiểm tra vết nứt gốm sứ

Chức năng phần mềm

Chức năng phóng đại một phần Khi một phạm vi được chỉ định trong hình ảnh lỗ hổng, khu vực được đề cập sẽ được phóng to và hiển thị.
Danh sách lỗi hiển thị Binarizes các lỗi trong một phạm vi được chỉ định và hiển thị danh sách lỗi.
Hình ảnh hiển thị các khuyết tật đã chọn Hình ảnh màu của các khuyết tật đã chọn được hiển thị trên ảnh bằng cách chỉ định các khuyết tật trong danh sách.
Chức năng đo kích thước đo độ dài X, Y của một dãy hình chữ nhật và khoảng cách giữa hai điểm.

≪Chức năng phóng to từng phần≫

≪Chức năng phóng to từng phần≫

≪Đo chiều dài hình chữ nhật≫

≪Đo khoảng cách giữa hai điểm≫

≪ Vết nứt gốm≫

≪ Khoảng trống hàn mô-đun nguồn≫

≪ Lỗi liên kết đế gốm≫